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首頁-產品中心-體積表面電阻率測試儀-絕緣材料電阻率測試儀-LJD系列材料耐電壓擊穿測試介電常數測試儀

材料耐電壓擊穿測試介電常數測試儀
產品型號:LJD系列
簡要描述:

材料耐電壓擊穿測試介電常數測試儀的創新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。

  • 廠家實力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

LJD系列材料耐電壓擊穿測試介電常數測試儀標準:
ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數)的標準試驗方法;
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數的推薦方法;
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法;

LJD系列介電常數介質損耗測試儀

一、符合標準:

ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數)的標準試驗方法;

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數的推薦方法;

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法;

GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數和介質損耗角正切值的測試方法;

二、 材料耐電壓擊穿測試介電常數測試儀主機及夾具參數:


項目/型號

LJD-B

LJD-A

LJD-C

信號源

DDS數字合成信號

頻率范圍

10KHZ-70MHZ

10KHZ-110MHZ

100KHZ-160MHZ

信號源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

16000:1

采樣精度

11BIT

12BIT

信號源頻率精度

3×10-5 ±1個字,6位有效數

Q值測量范圍

1~1000自動/手動量程

Q值量程分檔

30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔

Q分辨率

4位有效數,分辨率0.1

Q測量工作誤差

<5%

電感測量范圍

1nH~8.4H,;分辨率0.1

1nH~140mH;分辨率0.1

電感測量誤差

<3%

電容直接測量范圍

1pF~2.5uF

1pF~25uF

調諧電容誤差分辨率

±1pF或<1%

主電容調節范圍

30~540pF

17~240pF

諧振點搜索

自動掃描

自身殘余電感扣除功能

大電容值直接顯示功能

介質損耗直讀功能

介質損耗系數精度

萬分之一

介質損耗測試范圍

0.0001-1

介電常數直讀功能

介電常數精度

千分之一

介電常數測試范圍

0-1000

LCD顯示參數

F,L,C,Q,LT,CT,波段等

準確度

150pF以下±1pF;150pF以上±1%

Q合格預置范圍

5~1000聲光提示

環境溫度

0℃~+40℃

消耗功率

約25W

電源

220V±22V,50Hz±2.5Hz

極片尺寸

38mm/50mm(二選一)

極片間距可調范圍

≥15mm

材料測試厚度

0.1-10mm

夾具插頭間距

25mm±0.01mm

夾具損耗正切值

≤4×10-4 (1MHz)

測微桿分辨率

0.001mm

測試極片

材料測量直徑Φ38mm/50mm,厚度可調 ≥ 15mm


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